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哈工大甘阳教授发现纳米刷子可清除AFM探针污染

  哈尔滨工业大学甘扬教授发现,纳米刷AFM探针可以清除污染

  
“材料研究现状”5月7日,美国材料研究学会官方网站(Materials Research Society,MRS)(材料新闻当前研究新闻)栏目,“光栅刷清理原子力显微镜探针技巧“,哈尔滨工业大学甘扬教授超微显微镜研究报告(合着墨尔本大学教授Franks,”用超锐扫刷子清洗AFM胶体探针“,超显微术,第109卷,第8期,2009年7月,第1061-1065页)这是继2009年甘杨教授被邀请在“表面科学报告”上发表他应邀撰写的报告之后,又一个国际关注的成果。报告说:“清理AFM尖端是可靠的AFM成像和力测量的关键,研究人员现在发现具有超锐利尖峰的校准光栅作为”刷子“可以用于机械通过在恒定力模式下在增加的力的作用下扫描探针上的刺来去除AFM探针中的污染物。该方法不仅可以实现有机和无机污染物的无损和有效的去除,而且可以一步完成污染物去除和探针研究。另外,这种方法既可以用于清洁胶体/沉淀物探针,也可以用于清洁标准的AFM尖端。 “甘杨教授认为,作为”定点“去除表面污染物的新方法,该方法的应用远不止AFM探针,有望广泛应用于各种表面 - 表面研究和微电子领域。
 

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